針對IC半導(dǎo)更具有競爭力的"溫度變化試驗(yàn)箱"
溫度變化試驗(yàn)箱（）具有較寬的溫度控制范圍，可滿足用戶的各種實(shí)驗(yàn)溫度需要，采用平衡調(diào)溫方式，穩(wěn)定、平衡的加熱及降溫能力，可控精度高、穩(wěn)定性好。
溫度變化試驗(yàn)箱又稱加速LED老化壽命試驗(yàn)箱時(shí)間均智能可調(diào)。相關(guān)測試參數(shù)可根據(jù)用戶需要自由設(shè)定，從而實(shí)現(xiàn)LED額定要作條件下的常規(guī)老化試驗(yàn)和過載沖擊條件下的加速老化試驗(yàn)。系統(tǒng)具有可靠性好、調(diào)節(jié)方便、壽命長等優(yōu)點(diǎn)，是LED老化試驗(yàn)的先。
【老化試驗(yàn)風(fēng)扇設(shè)備】
產(chǎn)品的質(zhì)量控制是一個公司能否長久發(fā)展的重要因素，為了達(dá)到滿意的合格率，產(chǎn)品在出廠前都需先經(jīng)過老化。在產(chǎn)線上如何才能夠在不縮減老化時(shí)間的條件下提高其效率？并對進(jìn)行過老化測試的產(chǎn)品的測試信息形成可追索文檔。本文介紹在老化過程中進(jìn)行功能測試的新方案，在老化測試的同時(shí)進(jìn)行功能測試，并監(jiān)測產(chǎn)品的測試條件和產(chǎn)品的輸入輸出參數(shù)。
老化就是通過讓半導(dǎo)體進(jìn)行超負(fù)荷工作而使缺陷在短時(shí)間內(nèi)出現(xiàn)，避免在使用早期發(fā)生故障。在半導(dǎo)體業(yè)界，器件的老化問題一直存在各種爭論。半導(dǎo)體隨時(shí)可能因?yàn)楦鞣N原因而出現(xiàn)故障，如果不經(jīng)過老化，很多半導(dǎo)體成品由于器件和制造工藝復(fù)雜性等原因在使用中會產(chǎn)生很多問題。在開始使用后的幾小時(shí)到幾天之內(nèi)出現(xiàn)的缺陷稱為早期故障，老化之后的器件基本上要求通過這段時(shí)間。準(zhǔn)確確定老化時(shí)間的方法是參照以前收集到的老化故障及故障分析統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。
本系統(tǒng)用于大批量小型風(fēng)扇煲機(jī)測試，采集煲機(jī)過程中的風(fēng)扇運(yùn)行的電流、電壓、轉(zhuǎn)速及電流的波形，形成測試過程數(shù)據(jù)，用于監(jiān)控分析產(chǎn)品質(zhì)量。
【led及半導(dǎo)體燈具測試】
led及半導(dǎo)體燈具系統(tǒng)是根據(jù)客戶的新要求結(jié)合現(xiàn)場實(shí)際，由我公司自主研發(fā)設(shè)計(jì)的一種新型多功能的led及半導(dǎo)體燈具。適用于各種型號的路燈、應(yīng)急燈、球泡燈、射燈及洗墻燈等的老化和壽命測試；步入式溫度變化試驗(yàn)艙操作簡單方便，性能穩(wěn)定可靠，擴(kuò)展自由，為您分析產(chǎn)品性能、查找產(chǎn)品缺陷、提升產(chǎn)品質(zhì)量提供強(qiáng)有力的數(shù)據(jù)支撐。
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